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佐々木 貞吉
Phys.Status Solidi A, 34(1), p.339 - 346, 1976/01
被引用回数:11被照射KSOのTSEEを-165~550Cで調べ、5種類のグローピーク(-45C,5C,152C,210C,265C)を観測した。それぞれのグローピークについてエキソ電子放出機構を検討したところ、-45Cおよび265Cピークはエレクトロンタイプのラジカル種が関与するTSEEであり、また5C、152Cおよび210Cピークはエレクトロンタイプのラジカル種がホールタイプのラジカル種と再結合するさいに起るTSEEであることがわかった。TSEE強度の線量依存性をみると、510Radで最大になり510Rad以上では零になる。ラジカル種の収率は10Rad以上でも増加するので高線量領域におけるTSEE強度の減少は、放射線損傷により固体表面層の結晶構造が乱れたことに起因すると考えられる。